更新于 2025-06-12
电气特性 Features
- 分辨率：8 Bit
- 转换速率：10 MSPS
- 架构：R-2R
- 数字接口类型：Parallel
- DAC通道数：1
- 每芯片输出：1
- 输出类型：Current
- 满量程误差：±2.5 LSB
- 积分非线性误差：±0.5 LSB
- 最大稳定时间：0.1 us
- 工作温度范围：0 to 70℃
TLC7524CDG4
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- 分辨率：16 Bit,架构：Resistor-String,数字接口类型：Serial (3-Wire,SP,QSPI,Microwire),DAC通道数：8,每芯片输出：8,输出类型：Voltage,满量程误差：±10 LSB,积分非线性误差：±4 LSB,最大稳定时间：20(Typ) us,是否抗辐射：No,工作温度范围：-40 to 105℃
- 分辨率：12 Bit,转换速率：1 Msps,架构：Resistor-String,数字接口类型：Parallel,DAC通道数：1,每芯片输出：1,输出类型：Voltage,信噪比：78(Typ) dB,满量程误差：0.5 % of FSR,积分非线性误差：±4 LSB,最大稳定时间：3 us,是否抗辐射：No,工作温度范围：-40 to 85℃
- 分辨率：24 Bit,转换速率：192 Ksps,架构：Delta-Sigma,数字接口类型：Serial (3-Wire),DAC通道数：2,每芯片输出：2,输出类型：Voltage,信噪比：106(Typ) dB,满量程误差：6 % of FSR,积分非线性误差：±0.5(Typ) dB,是否抗辐射：No,工作温度范围：-25 to 85℃
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- 分辨率：8 Bit,转换速率：283 Ksps,架构：Resistor-String,数字接口类型：Serial (SPI,QSPI,Microwire),DAC通道数：8,每芯片输出：8,输出类型：Voltage,满量程误差：0.6 % of FSR,积分非线性误差：±1 LSB,最大稳定时间：7 us,是否抗辐射：No,工作温度范围：-40 to 85℃