更新于 2025-06-10
电气特性 Features
- 分辨率：8 Bit
- 转换速率：8 Ksps
- 架构：Resistor-String
- 数字接口类型：Serial (3-Wire)
- DAC通道数：4
- 每芯片输出：4
- 输出类型：Voltage
- 满量程误差：±60 mV
- 积分非线性误差：±1 LSB
- 最大稳定时间：75(Typ) us
- 是否抗辐射：No
- 工作温度范围：-40 to 85℃
TLV5621EDRG4
相关文章
- 分辨率：14 Bit,架构：Resistor-String,数字接口类型：Serial (3-Wire,SP,QSPI,Microwire),DAC通道数：2,每芯片输出：2,输出类型：Voltage,满量程误差：0.2 % of FSR,积分非线性误差：±3 LSB,最大稳定时间：10(Typ) us,是否抗辐射：No,工作温度范围：-40 to 125℃
- 分辨率：10 Bit,转换速率：93 Ksps,架构：Resistor-String,数字接口类型：Serial (3-Wire,SP,QSPI,Microwire),DAC通道数：2,每芯片输出：2,输出类型：Voltage,信噪比：68(Typ) dB,满量程误差：0.6 % of FSR,积分非线性误差：±1 LSB,最大稳定时间：10 us,是否抗辐射：No,工作温度范围：0 to 70℃
- 分辨率：16 Bit,转换速率：48 Ksps,架构：Delta-Sigma,数字接口类型：Serial,DAC通道数：2,每芯片输出：2,输出类型：Voltage,信噪比：98(Typ) dB,满量程误差：8 % of FSR,是否抗辐射：No,工作温度范围：-25 to 85℃
- 分辨率：24 Bit,转换速率：192 Ksps,架构：Delta-Sigma,数字接口类型：Serial (3-Wire),DAC通道数：2,每芯片输出：2,输出类型：Voltage,信噪比：106(Typ) dB,满量程误差：6 % of FSR,积分非线性误差：±0.5(Typ) dB,是否抗辐射：No,工作温度范围：-25 to 85℃
- 分辨率：8 Bit,转换速率：143 Ksps,架构：R-2R,数字接口类型：Parallel,DAC通道数：4,每芯片输出：4,输出类型：Voltage,满量程误差：±2 LSB,积分非线性误差：±1 LSB,最大稳定时间：20 us,是否抗辐射：No,工作温度范围：-25 to 85℃