更新于 2025-06-10
电气特性 Features
- 分辨率：8 Bit
- 转换速率：48 Ksps
- 架构：Resistor-String
- 数字接口类型：Serial (3-Wire)
- DAC通道数：4
- 每芯片输出：4
- 输出类型：Voltage
- 满量程误差：±60 mV
- 积分非线性误差：±1 LSB
- 最大稳定时间：10(Typ) us
- 是否抗辐射：No
- 工作温度范围：-40 to 85℃
TLV5620IDG4
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- 分辨率：10 Bit,架构：Resistor-String,数字接口类型：Serial (3-Wire,SP,QSPI,Microwire),DAC通道数：1,每芯片输出：1,输出类型：Voltage,满量程误差：-1 % of FSR,积分非线性误差：±2.8 LSB,最大稳定时间：7.5 us,是否抗辐射：No,工作温度范围：-40 to 105℃
- 分辨率：16 Bit,架构：Resistor-String,数字接口类型：Serial (3-Wire,SP,QSPI,Microwire),DAC通道数：2,每芯片输出：2,输出类型：Voltage,满量程误差：0.2 % of FSR,积分非线性误差：±12 LSB,最大稳定时间：10(Typ) us,是否抗辐射：No,工作温度范围：-40 to 125℃
- 分辨率：12 Bit,架构：Resistor-String,数字接口类型：Serial (3-Wire,SP,QSPI,Microwire),DAC通道数：2,每芯片输出：2,输出类型：Voltage,信噪比：76(Typ) dB,满量程误差：0.6 % of FSR,积分非线性误差：±4 LSB,最大稳定时间：10 us,是否抗辐射：No,工作温度范围：-40 to 125℃
- 分辨率：10 Bit,架构：Resistor-String,数字接口类型：Serial (3-Wire,SP,QSPI,Microwire),DAC通道数：2,每芯片输出：2,输出类型：Voltage,满量程误差：-0.75 % of FSR,积分非线性误差：±2 LSB,最大稳定时间：6 us,是否抗辐射：No,工作温度范围：-40 to 105℃